【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting(IEC60749-30:2005);GermanversionEN60749-30:2005
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
【标准号】:DINEN60749-30-2005
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2005-06
【实施或试行日期】:2005-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;元部件;尺寸;可靠度;电气工程;试验;耐力;环境;密封性;温度;大气压;电子设备及元件;气候;表面安装;半导体;半导体器件;电学测量;可靠性试验;机械试验;气候试验;集成电路;外观检查(试验);热学;电子工程;环境试验;表面安装设备;潮气;易燃性;温湿度预调节;温度变化;气候的
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofDINEN60749establishesastandardprocedurefordeterminingthepreconditioningofnon-hermeticsurfacemount-devices(SMDs)priortoreliabilitytesting.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:15P.;A4
【正文语种】:德语